大咖直播|DFT系列分享2—Scan到底扫个啥？

DFT（Design for Test）顾名思义是为了测试而存在的设计，由于芯片规模越来越大，复杂度越来越高，芯片可测试性越来越低，如果通过功能激励去测试芯片，由于功能复杂度，测试时间非常夸张，测试成本呈指数上升，这时候需要专门针对测试进行设计，这就是DFT。

DFT技术中最最最火，甚至很多人认为DFT技术就等价于的Scan扫描技术，那么它到底是什么、为什么、有什么呢？炖粉条系列第二弹，我们以问题为导向，为您深入解析Scan扫描技术，跟我们一起活泼又严肃的来讨论学习Scan/ATPG技术吧。

【讲师介绍】

曾吃不胖，带着美好愿景的名字，真名曾坤，毕业于IC人才的摇篮之一：西安电子科技大学，拥有近7年DFT设计经验，在DFT及相关领域内拥有非常丰富的专业技术。目前就职于摩尔精英的设计服务部门，负责DFT与测试相关业务，曾服务于多家企事业公司，项目工艺经验覆盖130-10nm，掌握DFT技术包含Scan/ATPG、MBIST、边界扫描设计、存储器内建自修复、IP测试等等，掌握多种测试控制协议，并拥有丰富的芯片ATE调试经验。活泼与严肃相映成辉，主动思索探求问题根源，乐于分享与探讨，目前除服务客户外着手于DFT设计与测试服务的垂直发展与自动化效率方面工作。

【直播时间】

3月22日 19:00

【直播大纲】

• 什么是生产结构测试？
• 有哪些Physical Defect？
• Scan扫描电路设计：
• Defect建模
• 扫描结构scan cell
• DC/AC Scan
• 更多的问题：
• 管脚不够用怎么办？
• Scan 功耗高怎么办？
• IP多怎么办？
• 设计太大怎么办？
• 其他DFT结构该怎么测试？
• 总结
• Q&A

【直播亮点】

趣味、Defect、scan、ATPG、Compression/decompression、Hierarchy Test、LPCT

【直播微信群】

本次课程还开设了直播微信群，加入直播微信群你可以：

• 面对面和讲师互动；
• 领取直播讲义资料；
• 领取【价值660元】可测试性设计理论和实践课程（限量300份）

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